Микроскоп Hitachi TM4000Plus

Настольный сканирующий электронный микроскоп с функцией микроанализа «Hitachi TM4000Plus».

Микроскоп Hitachi TM4000Plus отличается компактными размерами и широкими возможностями. Прибор штатно имеет режим низкого вакуума, который позволяет обойтись без пробоподготовки и исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления металла.

Настольный электронный сканирующий микроскоп, адаптированный для региональных экспертных подразделений. Благодаря встроенной системе микроанализа позволяет увидеть не только структуру объекта, но и получить данные об элементном составе материала. Система микроанализа является средством измерения, поверена и внесена в соответствующий реестр.

Микроскоп оснащен двумя детекторами – вторичных и отраженных электронов, благодаря чему может давать исчерпывающую информацию по поверхности исследуемых объектов. В новом ТМ4000Plus оптимизирована работа детектора, за счёт чего существенно улучшилось качество изображения при работе на низких ускоряющих напряжениях
.
Микроскоп построен по схеме моноблок и имеет настольное исполнение. Благодаря этим особенностям прибор не нуждается в специализированном помещении и не требует регулярного технического обслуживания специализированным персоналом. Для использования микроскопа достаточно обычного лабораторного стола.

Управление микроскопом осуществляется через простой и понятный интерфейс, в котором доступны функции автоматической настройки фокуса, контрастности и яркости. Прибор готов к работе в течении 3-х минут после включения, а время смены образца не превышает 2-х минут.

Алгоритмы работы на микроскопе позволяют использовать его пользователями с различным уровнем подготовки, что особенно важно для региональных подразделений. Микроскоп с успехом может применяться в различных видах экспертиз: баллистика, трасология, КЭМВИ, ТКЭД, и других.

Проведенные поисковые работы на реальных и модельных экспертных объектах подтвердили пригодность и востребованность данного оборудования.